Застосування
• Пасивні компоненти:
Оцінка параметрів імпеданції та аналіз продуктивності конденсаторів, індукторів, магнітних ядрів, резисторів, пізоелектричних пристроїв, трансформаторів, компонентів чіпів та мережевих компонентів.
• напівпровідники:
Аналіз параметрів випробувань паразитів інтегрованої схеми світлодіодних приводів; C-VDC характеристики змінного діоду; Аналіз параметрів паразитів транзисторів або інтегрованих схем
• Інші компоненти:
Оцінка імпеданції друкованих плат, реле, вимикачів, кабелів, акумуляторів тощо
• Матеріали засобів масової інформації:
Оцінка диелектричних констант та кутів втрат для пластику, кераміки та інших матеріалів
Магнітні матеріали:
Оцінка магнітної провідності та кутів втрат для феризу, некристалічних та інших магнітних матеріалів
• Матеріали напівпровідників:
Дієелектричні константи, провідність та C-V властивості напівпровідникових матеріалів рідкокристалічних матеріалів:
• Рідкий кристальний блок:
C-V характеристики, наприклад, діелектричні константи, еластичні константи

Технічні параметри